TFD320 Plus ultrahelivigade detektor nagu Olympuse veadetektor Dac Avg B Scan Dual 4a

TFD320 Plus Ultrasonic Flaw Detector Like Olympus Flaw Detector Dac Avg B Scan Dual 4a Featured Image

Lühike kirjeldus:

Saatke meile e -kiri

Toote üksikasjad

Toote sildid

★ Interaktiivne kasutajasõbralik dialoog aitab selliseid toiminguid nagu kalibreerimine, tegemine curves jne.

★ Kõik vajalikud tööriistad: DAC, AVG, TCG, värv B. skaneerimine, AWS, Sfäärimine Hinda, jne.

★ Impulsi kordamise sagedus: 20–3000 Hz täpne reguleerimine, kiire skaneerimine, ilma jäta kasutamata.

★ Kõrge signaali ja müra suhe, selge ja stabiilne kaja, müravastane disain, ideaalne raskete töötingimuste jaoks.

★ 12-kohaline AD, kiire proovivõtt tagab parema kajaskeemi koos kõigi detailidega. Tundlik ja suudab tuvastada isegi väikesed vead.

★ Saab kasutada sond sagedus 25M ideaalselt .

★ Kiire reaalajas vigade tuvastamise videosalvestus. Piiramatu USB -andmesalvestus.

★ IP65 standard. Sulamist + silikageelikarp, vee- ja tolmukindel, tahke ja kestab igavesti. Amortisaator toetab seda mis tahes nurga all.

★ Aku kestab ühe laadimisega 15 tundi. Igal akul on oma laadimiskontroll, nii et kahe akuga saab töötada ööpäevaringselt.

Tehnilised andmed

Vahemik ： 0-10000 mm, teraskiirusel
Materjali kiirus: 100–20000 m/s
Impulsi kordamise sagedus: 20-3000 Hz
Dünaamiline vahemik ： ≥38dB
Lineaarsus: horisontaalne: +/- 0,2%, vertikaalne: 2,5%, võimendi täpsus +/- 1 dB.
Lahendusvõimsus ：> 40dB (5P14)
Tundlikkuse lahkumine ：> 62dB
Tagasilükkamine (summutamine): 0 kuni 80% täisekraani kõrgusest
500 sõltumatuse seadistust, mis tahes kriteeriumi saab vabalt sisestada, saame stseenis ilma testplokita töötada ；
Suur mälu 1000 A graafikuga
Testimisrežiimid: impulsi kaja, kahekordne element ja ülekanne
Sonditüübid: üks sirge, ühe nurga all, Daul sirge, Daul Anlge, läbiv, roomav, pind
Väravamonitorid: kaks sõltumatut väravat, mida saab kontrollida kogu pühkimisvahemiku ulatuses
Ühikud: toll või millimeeter
Toitevajadused: vahelduvvooluvõrk 100-240 VAC, 50-60 Hz
Ekraani viivitus: -20 kuni 3400 µs
Sondi viivitus/nullnihe: 0 kuni 99,99 µs
Sisemine laetav liitium-ioon aku, mille võimsus on 7,2 V ja 8000 mAh
15 tundi nominaalset tööaega sõltuvalt ekraani heledusest
Tavaline laadimisaeg on 4 tundi
K × L × S (mm) ： 240 × 150 × 50 (mm)
Kaal: 1,4 kg
Töötemperatuur: -10 ℃ kuni 50 ℃
Säilitustemperatuur: -30 ℃ kuni 50 ℃
Impulsi energia: 70V, 100V, 200V, 300V, 400V, 500V valitav
Parandus: positiivne poollaine, negatiivne poollaine, täislaine, raadiosüsteem
Ribalaius (võimendi ribalaius): 0,2 kuni 35 MHz
Väravamonitorid: kaks sõltumatut väravat, mida saab kontrollida kogu pühkimisvahemiku ulatuses
Tundlikkus: kuni 120 dB valikulise eraldusvõimega 0,1, 1,0, 2,0, 6,0 dB.
Anduri ühendused: LEMO 01

Lõbustsioonid

Automatiseeritud kuva täpne vigade asukoht (sügavus d, tase p, kaugus s, amplituud, sz dB 、 ф).
Vigade suurused: automaatne veamõõtmine AVG või DAC/TCG abil, kiirendab defektide aktsepteerimisest või tagasilükkamisest teatamist.
Anduri automaatne kalibreerimine Nullpunkt, nurgad, esiserv ja materjali kiirus. (V2 ja kaks auku)
Mugav teha ja kasutada DAC/TCG ja AVG kaja hindamiseks, kõverat saab muuta ja kompenseerida.
U-ketta ühendamine unit seade saab piiramatult mälu.　
Automatiseeritud video testimisprotsessist ja esitusest; kasuta kuni ， video pikkus on piiramatu.
Värv B skaneerimine.
Seadmes on 15 standardit.
Sinise hamba ühendus mobiilseadmega, et luua ja printida tuvastusaruandeid kohapeal. AWS D1.1.
Kumera pinna korrigeerimise funktsioon.
Prao kõrguse mõõtmise funktsioon.
Suurendage värava ： väravaulatuse hajutamist kogu ekraani laiuse ulatuses.
Automaatse võimenduse funktsioon.
Ümbrik: samaaegne reaalajas A-skannimise kuvamine 70 Hz värskendussagedusel ja A-skaneerimise ümbrik
kuvada.
Tipptugevus: võrrelge külmutatud piigi lainekuju A-skaneeringutega, et testitulemusi hõlpsasti tõlgendada.
Skaneeri külmutamine ： Ekraani külmutamine hoiab lainekuju ja helitee andmeid.
Sferoidistamiskiiruse test.
Alarm: piiks ja LED.
Reaalajas kell.
Täida kaja.
Jäädvusta märk.
Kaja värv väravas.