mac@tmteck-instruments.com
Kas teil on küsimus? Helistage meile:+8613911515082
Inglise

Equv GE ultraheli paksuse sond

Equv GE ultrasonic thickness probe Featured Image
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe
  • Equv GE ultrasonic thickness probe

Lühike kirjeldus:


Toote detail

Toote sildid

Equv GE ultraheli paksuse sond

23

Mudel Sagedus Mhz Kristalli suurus (mm) Pistiku tüüp Läbimõõduga kokkupuutepind Temperatuuri vahemik
DA301 5 Dia 10 2XLemo00 Dia 12,5 mm 5-50
MSEB4 4 3,5 × 10 2XLEMO 00 Dia 16,5 mm 5-50
MB4S 4 Dia 10 LEMO 00 Dia 15mm 5-50
DA312 10 5mm 2Xmicrodot 7,5 mm -20-70
  • Eelmine:
  • Järgmine:
    • Kirjutage oma sõnum siia ja saatke see meile

    Tootekategooriad